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应变测试系统

- CM3100 静态智能应变测试系统
- CBook 高精度便携数据采集系统
- DI-195B 双通道应变测试系统
- DI-500 工业现场便携测试系统
- WAVEBOOK 1MHz采样速率高速应变测试系统
- Log2500 100kHz，16bit分辨率 独立、智能应变测试系统

型号
调理选项
通道
桥路方式
桥阻
Ω
激励
范围
采样率
接口
高精度静态智能应变测试系统
16-256
全桥,半桥
300-10k
+10.0 V
 250kHz
并口
2
全桥,半桥
300-10k
+10.0 V
串口
16
全桥,半桥
300-10k
+10.0 V
250kHz
并口
8-64
全桥,半桥,1/4桥
60-1000
0.5-10V
1MHz
并口
2-256
全桥,半桥,1/4桥
60-1000
1.5-10.5V
100kHz
并口,RS-232
16-256
全桥,半桥
300-10k
+10.0 V
 2.2MHz
PCI
16-256
全桥,半桥
300-10k
+10.0 V
 100kHz
PCMCIA
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